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01 福井工業大学研究紀要. 第一部 >

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タイトル: マイクロ波検出技術を用いた高分子材料への熱・放射線照射による経年劣化測定技術に関する研究Ⅱ
その他のタイトル: Non-contact Quantitative Microwave Detection of Radiation Induced Degradation of Polymers (Ⅱ)
著者: 砂川, 武義
Sunagawa, TakeyoshI
佐伯, 昭紀
Saeki, Akinori
関, 修平
Seki, Shu
発行日: 4-8月-2011
掲載誌: 福井工業大学研究紀要
巻: 41
資料タイプ: Article
URI: http://hdl.handle.net/10461/7236
出現コレクション:01 福井工業大学研究紀要. 第一部

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